?直觀的圖形化界面設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化了參數(shù)配置及I-V測(cè)試分析過(guò)程

?支持從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行到結(jié)果分析、數(shù)據(jù)管理的整個(gè)表征過(guò)程

?可搭配IT2800系列SMU，分辨率最高可達(dá)100nV/10fA

即用型測(cè)試項(xiàng)，加速器件表征測(cè)試

SPS5000軟件具有各種強(qiáng)大的功能，可以快速進(jìn)行測(cè)量并以圖形化方式獲取結(jié)果。為加速半導(dǎo)體器件檢定測(cè)試過(guò)程，SPS5000針對(duì)常見(jiàn)的器件類型，例如MOSFET、二極管、BJT以及薄膜電阻配備多種即用型測(cè)試項(xiàng)，使用者無(wú)需進(jìn)行任何的測(cè)試項(xiàng)開(kāi)發(fā)或代碼編程，即可快速執(zhí)行復(fù)雜的半導(dǎo)體測(cè)試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測(cè)試為例，傳統(tǒng)的測(cè)試過(guò)程需要經(jīng)過(guò)：定義測(cè)試變量-----開(kāi)發(fā)測(cè)試流程-----編寫(xiě)測(cè)試代碼-----執(zhí)行測(cè)試。而通過(guò)SPS5000軟件用戶僅需要三個(gè)簡(jiǎn)單的步驟，即可快速完成測(cè)試，第一步選擇即用型測(cè)試項(xiàng)Id-Vd-----第二步配置測(cè)量條件-----第三步執(zhí)行測(cè)試。

靈活提供測(cè)試序列，提升測(cè)試效率

SPS5000軟件提供了一種靈活且高效的方法，允許用戶選擇多個(gè)測(cè)試項(xiàng)來(lái)構(gòu)建測(cè)試序列，以便對(duì)半導(dǎo)體器件參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行連續(xù)測(cè)試，從而顯著縮短了測(cè)試時(shí)間。這項(xiàng)功能適用于具備相同接線方式的測(cè)試項(xiàng)。在進(jìn)行測(cè)試配置時(shí)，當(dāng)您選擇其中一個(gè)測(cè)試項(xiàng)，軟件會(huì)自動(dòng)顯示具有相同測(cè)試接線的其他測(cè)試項(xiàng)。您可以根據(jù)具體的測(cè)試場(chǎng)景和需求，選擇一次執(zhí)行單個(gè)測(cè)試項(xiàng)（如Id-Vd）或組合成測(cè)試序列進(jìn)行連續(xù)測(cè)試（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體器件性能的評(píng)估和驗(yàn)證。

強(qiáng)大的圖表在線分析功能

SPS5000軟件提供了強(qiáng)大的圖形顯示和分析功能。用戶可以利用軟件提供的各種圖表分析工具，如曲線自動(dòng)縮放、恒值線、區(qū)域標(biāo)記、切線、分布線等，快速完成對(duì)測(cè)試結(jié)果的分析。用戶無(wú)需導(dǎo)出圖表后借助其他輔助工具，更加方便快捷。此外，軟件還支持多Y軸功能，并允許用戶根據(jù)分析需求靈活配置X軸和Y軸的數(shù)據(jù)類型，以及選擇log或linear刻度顯示格式，讓曲線顯示更直觀和符合分析的意圖。如下圖所示，當(dāng)您開(kāi)啟line功能后，軟件會(huì)自動(dòng)顯示line與曲線交點(diǎn)位置的參數(shù)值。